Ответом на эту потребность является профессиональная работа Родольфо Кортеса Мартинеса, члена Центра научных исследований и высшего образования (CICESE) в Монтеррее, к северу от Мексики, который разработал процесс измерения, основанный на интерференции исчезающих полей в дальней зоне.
"Это неинвазивный метод, позволяющий измерять объекты или соединения нанометрических размеров без какого-либо ущерба. Чтобы измеряемый объект был помещен между источниками света и учитывалось расстояние между ними, затем мы количественно оцениваем генерируемые полосы через их периодичность и принимаем во внимание расстояние наблюдения, чтобы мы могли определить диаметры и толщину объектов, которые подвержены повреждениям при использовании других механических инструментов.
«Другой способ добиться этого – использовать только один источник света вместо двух, поместив на него определенные объекты, чтобы они рассеивали свет и фиксировали его перекрытие с помощью специальной камеры, чтобы интерференционные полосы дали нам меру размеров или разделения. между предметами, погруженными в поле света."
Физик Кортес Мартинес объясняет применение интерферометрических методов для определения относительного смещения объектов в наномасштабе, а также для перемещения сужающегося оптического волокна ближе к образцу. Чтобы реализовать такой подход в этих масштабах, требуется ряд шагов, «механический вид, который использует микрометрический винт и закрывается на расстоянии в микронах примерно до 300 нанометров, для чего мы разработали оптическую технику, основанную на световой интерференции. что дает нам меру приближения к поверхности кончика того, что мы хотим охарактеризовать.
"Наша техника использует отражение света через кончик оптического волокна, и это отражение вызывает интерференцию с самим собой в пространстве. Этот свет фиксируется специальной камерой и показывает нам интерференционную картину двух источников света, а затем приближение этих полос – это значение, которое мы можем искать. "
До сих пор этот метод использовался в совместном проекте группы NanoOptics в CICESE Monterrey и Гектора Рафаэля Силлера Каррильо из Технологического института высших исследований в Монтеррее (ITESM), который был дополнен так называемой нечеткой логикой; комбинация обеих систем была использована для устройства, названного микроскопом ближнего поля.
Специалист по оптике ссылается на то, что концепция интерференции света как средства подхода привела к публикации, в которой описывается, как два источника света были созданы на поверхности призмы, так что свет, который распространяется по поверхности, улавливается вдали от поверхность с помощью камеры, так что наложение световых интерференционных полос снова дает необходимую информацию.
Кортес Мартинес получил научное образование в области плазмона, области оптики на наноуровне, основанной на изучении процессов взаимодействия со светом.
Он отмечает, что метрологические методы, требующие наноразмерного подхода или неинвазивного или неразрушающего измерения, не выполняются в таких областях, как машиностроение, прецизионное измерение износа механических инструментов, среди многих других приложений.
Проекты, в которых использовалась техника Кортеса Мартинеса, привели к публикации двух научных статей в международных журналах.
Подразделение CICESE в Монтеррее находится в Парке исследований и технологических инноваций (PIIT) в штате Нуэво-Леон; Помимо ведущих ученых и интеграции с ITESM и Автономным университетом Нуэво-Леон (UANL), он установил связи с различными промышленными палатами и бизнес-ассоциациями. (Идентификатор Agencia)