Новый метод повышает точность систем визуализации
Усовершенствованный метод определения положения объектов, захваченных системами визуализации, является результатом нового исследования ученых из Чикагского университета. Результаты, опубликованные в декабре.
26 в Proceedings of the National Academy of Sciences, предоставляет механизм, известный как функция внутреннего однопиксельного заполнения, или SPIFF, для обнаружения и исправления систематических ошибок в анализе данных и изображений, используемых во многих областях науки и техники. …
Новый метод повышает точность систем визуализацииПодробнее »