Получение изображений в атомном масштабе раскрывает секрет прочности тонких пленок: революционное открытие раздвигает границы микроскопии для повышения эффективности производства топлива и пластика
Революционное открытие одномерных дефектов в двумерной структуре пористого материала (цеолита, называемого MFI) было достигнуто с помощью мощной просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) высокого разрешения в кампусе Университета Миннесоты в городах-побратимах. Изучая атомную структуру нанолистов MFI с беспрецедентной детализацией, исследователи обнаружили, что эти одномерные дефекты привели к уникальной усиленной структуре нанолиста, которая резко изменила фильтрационные свойства нанолиста. …